리틀 불규칙 지수

리틀 불규칙 지수란?

리틀 불규칙 지수는 아래턱(또는 위턱) 앞니 6개의 접촉점이 서로 얼마나 어긋나 있는지를 밀리미터 단위로 재어 더한 값으로, 앞니의 총생(치아가 비뚤비뚤하게 겹쳐 난 상태) 정도를 숫자로 나타내는 지수입니다. 1975년 교정과 의사 로버트 리틀(Robert Little)이 제안했으며, 값이 클수록 앞니 배열이 불규칙하다는 뜻입니다.

측정 방법

주로 환자의 치아 모형(석고 모형이나 디지털 모형)을 이용해 측정합니다.

• 측정 대상은 송곳니부터 반대쪽 송곳니까지 앞니 6개이며, 이 치아들 사이에는 접촉점이 5곳 있습니다.
• 각 접촉점에서 이웃한 두 치아의 해부학적 접촉점이 수평 방향으로 얼마나 떨어져 있는지를 캘리퍼 등으로 잽니다.
• 5곳의 측정값을 모두 더한 것이 지수 값이 됩니다.
• 원래는 아래 앞니를 기준으로 만들어졌지만, 위 앞니에도 같은 방식으로 적용하기도 합니다.

점수 해석

리틀이 제시한 일반적인 기준은 다음과 같습니다.

주로 쓰이는 경우

• 교정 치료 전후 앞니 배열 변화를 객관적으로 비교할 때
• 교정 후 치아가 다시 틀어지는 재발 정도를 장기간 관찰할 때
• 유지장치 효과나 교정 안정성을 다루는 연구에서 결과를 수치로 비교할 때

알아 두면 좋은 점

• 이 지수는 앞니 접촉점의 어긋남만 보므로, 치아 사이가 벌어진 공극이나 수직 방향 차이, 어금니 쪽 문제는 충분히 반영하지 못합니다.
• 같은 수치라도 회전, 겹침 등 어긋난 양상은 다를 수 있어 지수 하나만으로 교정 필요성이나 치료 방법을 결정하지는 않습니다. 실제 진단에서는 교합 상태, 턱뼈 관계, 방사선 사진 등을 함께 봅니다.
• 측정자에 따라 약간의 차이가 생길 수 있어 연구에서는 측정 오차를 함께 확인하는 경우가 많습니다.
• 앞니가 비뚤어 보이거나 교정 후 다시 틀어지는 느낌이 든다면 치과(교정과)에서 상담을 받아 보는 것이 좋습니다.